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漏磁通檢測(cè)法的特點(diǎn)
點(diǎn)擊量：發(fā)布時(shí)間：2021-06-22 10:27
用霍爾元件等磁敏元件檢測(cè)被磁化材料表面逸出的漏磁場(chǎng)，就可判斷缺陷是否存在。同樣尺寸的缺陷，位于表面上和表面下形成的漏磁場(chǎng)不同：表面上缺陷產(chǎn)生的漏磁場(chǎng)大,缺陷在表面下時(shí)，形成的漏磁場(chǎng)將顯著變小。所以，漏磁通法適用于各種鐵磁材料，可以對(duì)裂紋、腐蝕等缺陷進(jìn)行檢驗(yàn)，并可以判斷缺陷的位置，且檢測(cè)時(shí)不需要耦合劑，也不容易發(fā)生漏檢。